»Smartere Testsysteme für Smart Devices« waren das Thema der diesjährigen Podiumsdiskussion des 21. Technologie- und Anwenderkongresses – »Virtuelle Instrumente in der Praxis – VIP 2016«. Diskutiert wurde über den Umgang mit den technischen Systemen von morgen und wie eine mögliche Entwicklung und Qualitätsabsicherung dieser Systeme zukünftig aussehen könnte. Thematisiert wurde auch, welche Herausforderungen sich im Kontext der Digitalisierung ergeben und wie diesen begegnet werden kann. Teilnehmer waren Dr.-Ing. Christian Henke (Fraunhofer IEM), Niels Koch (AUDI AG), Michael Konrad (Konrad Technologies), Wolfram Koerver (S.E.A., Science & Engineering Applications Datentechnik GmbH), Benjamin Döbbeler (Werkzeugmaschinenlabor WZL der RWTH Aachen) sowie Rahman Jamal (National Instruments). Moderiert wurde die Diskussion von Ronald Heinze (VDE-Verlag).

Neben der Podiumsdiskussion bot der VIP 2016 auch 40 Unternehmen die Möglichkeit, ihre aktuellsten Anwendungen, Lösungen und Produkte im Rahmen der VIP-Ausstellung zu präsentieren. Das Fraunhofer IEM zeigte an einem Messedemonstrator, wie durch den Einsatz der modellbasierten Entwicklung effizient getestet werden kann. Am Beispiel eines Waschautomaten wurde die Technologie »Hardware-in-the-Loop« gezeigt. Durch das Verfahren können eingebettete Systeme in einer virtuellen Umgebung effizient getestet werden. Da durch diese Technologie Testreihen automatisiert durchgeführt werden können, entfallen aufwändige Vor- und Nachbereitungen. Das Vorgehen ermöglicht dadurch ein intensives Testen, welches die steigende Funktionalität mechatronischer Systeme auch zukünftig absichert und gleichzeitig hohe Qualität verspricht. Die Technologie ist in Zusammenarbeit mit der Firma Miele im Rahmen der modellbasierten Entwicklung entstanden.

Der zweite Demonstrator aus dem Automatisierungsbereich zeigt, wie in bestehende Anlagen Intelligenz integriert werden kann. So wurde im Anwendungsbeispiel eine Kommunikation für einen Teigkneter aufgesetzt, um diesen mit der Fähigkeit auszustatten, seinen eigenen Prozess prädiktiv voraussagen zu können und somit ein optimales Knetergebnis zu erhalten. Der Demonstrator entstand im Rahmen eines Kooperationsprojekts mit der Universität Paderborn (Lehrstuhl Regelungstechnik und Mechatronik) und der Firma WP Kemper GmbH. Interessierte Kongressbesucher konnten sich nicht nur am Messestand über dieses Projekt informieren, sondern auch in dem Vortrag »PROFINET-Implementierung im Rahmen der Entwicklung eines intelligenten, selbstlernenden Teigkneters« technische Details zur Umsetzung des Prüfstandes erfahren.